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PHL雙折射測量系統WPA200

主要簡(jiǎn)介：   

  WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品***次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上***適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。

 主要特點(diǎn):

• 操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可***次測量，測量范圍廣。

• 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀(guān)的讀取數據。

• 具有多種分析功能和測量結果的比較。

• 維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構。

• 市場(chǎng)占有率高的殘余應力測量設備。
  

 主要應用： 

· 光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導光板）

· 透明成型品（車(chē)載透明零件、食用品容器）

· 透明樹(shù)脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

· 有機材料（球晶、FishEve）

 
技術(shù)參數：