PHL應力雙折射儀 PA-200
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-21 10:50
品 牌:其他型 號:PA-200-L
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2999
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產(chǎn)品介紹
PHL應力雙折射儀 PA-200
主要簡(jiǎn)介:
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其專(zhuān)利技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內,特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
主要特點(diǎn):
應用領(lǐng)域:
光學(xué)鏡片、手機鏡頭
智能手機玻璃基板
碳化硅,藍寶石等
技術(shù)參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
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2 | 測量波長(cháng) | 520nm |
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3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
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4 | 測量***小分辨率 | 0.001nm |
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5 | 測量重復精度 | <1nm(西格瑪) |
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6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm(標準) |
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7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4(擴束鏡頭) |
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8 | 選配功能 | 實(shí)時(shí)解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實(shí)現外部控制
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