全自動(dòng)四探針測試系統
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-05-11 14:46
品 牌:其他型 號:JC503-D3
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1998
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產(chǎn)品介紹
概述:
可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試;
屏蔽測試,完全消除光線(xiàn)對樣品測試的影響,保證測量的準確性;
吸附測試,完全消除全自動(dòng)測試過(guò)程中樣品移動(dòng)對測試的影響;
可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測試并把測試結果同時(shí)顯示于顯示屏;
運用四探針測量原理的多用途綜合全自動(dòng)測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法專(zhuān)用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專(zhuān)用儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制進(jìn)行全自動(dòng)測試,然后把測試數據采集到計算機中加以分析,以表格、圖形方式統計分析顯示測試結果。