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 JED-2300T 能譜儀

· JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀(guān)察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過(guò)程中，自動(dòng)采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數，進(jìn)行數據管理。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· AnalysisStation
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀(guān)察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過(guò)程中，自動(dòng)采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數，進(jìn)行數據管理。

· 硅漂移檢測器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)SDD）的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大，檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F（HRP）配合使用DRY SD100GV檢測器（檢測面積為100mm2），可同時(shí)實(shí)現大受光面積和高分辨率， 可以清楚地識別B、C、N、O等輕元素。
Dry SD100GV

· 快速元素面分析

· DRYSD100GV檢測器的靈敏度極高，測試Au催化劑顆粒只需***分鐘。

· 上圖: 樣品　負載在Ti氧化物上的Au催化劑顆粒
裝置: JEM-ARM200F +　DRYSD100GV檢測器
測試時(shí)間: 大約1分鐘 
束流電流: 1nA
像素數: 256ｘ256像素

· 實(shí)現原子分辨率的面分析

· Sr和Ti的原子列被清楚地分離開(kāi)來(lái)。

· 上圖: 樣品　SrTiO3<100>
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時(shí)間: 大約10分鐘
束流電流: 1nA
像素數: 128ｘ128像素

· play Back（回放）功能

· 用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖，不僅保存了每***幀中各個(gè)像素點(diǎn)的譜圖，還對每***幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲。利用play back功能，可以進(jìn)行多角度的分析如觀(guān)測譜圖等隨時(shí)間的變化等。測試后數據能夠回放，可以觀(guān)察到樣品按時(shí)間順序發(fā)生的變化，這是至今為止無(wú)法實(shí)現的。此外，利用play back功能還可以截取任意指定的畫(huà)面。

· 上圖: 裝置　JEM-2800+DRYSD100GV檢測器
樣品: 巖鹽
像素數: 128ｘ128
提取的幀號: 398幀s