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日本JEOL發(fā)射掃描電子顯微鏡 Serial Block-face SEM 3View 

肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(cháng)時(shí)間穩定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過(guò)對獲得的圖像進(jìn)行三維重構，可以對精細結構進(jìn)行三維分析。

產(chǎn)品規格：

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(cháng)時(shí)間穩定地提供高電流下的微細探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過(guò)對獲得的圖像進(jìn)行三維重構，可以對精細結構進(jìn)行三維分析。

· 系統簡(jiǎn)介

· JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產(chǎn)品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進(jìn)行數百微米區域的三維重構。通過(guò)三維重構能夠觀(guān)察二維圖像上無(wú)法看到的細胞的深處結構。

。外觀(guān)：

 操作

· 自動(dòng)、反復地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過(guò)軟件進(jìn)行堆疊、調節、生成三維圖像。

 應用數據

小鼠大腦 突觸
細分數據
黃色區域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區域：突觸后部