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二次質(zhì)譜儀（SIMS）是***前沿的表面分析技術(shù)。確立于40多年前，它揭示了極表面

和近表面的原子層的化學(xué)組成。這種信息遠遠超過(guò)了為鑒定有機組成部分的分子結

構所需的簡(jiǎn)單元素分析。

應用：

單分子層水平表面信息　　薄膜縱剖面分析

所有元素檢測　　　　　　有機物質(zhì)鑒定

表面污染鑒定 高靈敏度分析　　　　　　

快速化學(xué)組分成像等表面分析領(lǐng)域

SIMS一個(gè)主要的特征是對表面（固定SIMS）的固定區域的原位分析。掃描聚焦探測

光束（影像SIMS）生成一個(gè)表面成分圖僅需幾秒鐘（而不是幾分鐘）。延展的分析

通過(guò)深度刻蝕表面而顯示表層下面變化的組成（動(dòng)態(tài)SIMS）。所有這些能在只需少

量而不需任何樣品準備的情形下操作成功，并且具有高靈敏度，同時(shí)可使分析時(shí)間

降至最短。

Millbrook MiniSIMS是在一個(gè)緊湊的半開(kāi)式可移動(dòng)儀器中開(kāi)發(fā)的SIMS功能技術(shù)。

僅需一個(gè)標準的主電源以供操作，放置極為方便。完全的計算機控制使得操作簡(jiǎn)

便，并且自動(dòng)獲得數據。通過(guò)英特網(wǎng)的遠距離控制使您使用SIMS更為方便。

MiniSIMS使得室內表面分析儀器，在很大范圍的情形下成為一種操作簡(jiǎn)便經(jīng)濟實(shí)

用的方式，低成本的資金和維護費用以及高的樣品產(chǎn)出，意味著(zhù)每個(gè)樣品的總費用

要比使用傳統的SIMS儀器減少90%