PILATUS光子計數探測器計數說(shuō)明
混合像素探測器,為您的實(shí)驗室精心準備
PILATUS混合像素探測器的設計從理論到現實(shí)均達到*佳的數據質(zhì)量X射線(xiàn)檢測。他們帶來(lái)了兩項關(guān)鍵技術(shù),單光子計數和混合像素技術(shù)相結合,同步到您的實(shí)驗室。單光子計數消除所有探測器噪聲,并提供卓越的數據。在收集數據時(shí),讀數無(wú)噪音和暗電流的消失特別具有優(yōu)勢:在實(shí)驗室中的X射線(xiàn)光源比同步加速時(shí)要弱很多,需要更長(cháng)的曝光時(shí)間,并導致較弱的信號。由于沒(méi)有了暗電流和讀數噪音, PILATUS探測器更加適合在實(shí)驗室使用?;旌舷袼丶夹g(shù)可以直接檢測X射線(xiàn),與其他任何探測器技術(shù)相比實(shí)現了更清晰,更好地解決信號傳輸問(wèn)題。加上讀取時(shí)間短和連續采集的特點(diǎn),PILATUS探測器可以高效提供優(yōu)質(zhì)數據。低功耗和冷卻需求,給你***個(gè)無(wú)憂(yōu)的、維護量極小探測器系統,。PILATUS探測器系列是專(zhuān)為您在實(shí)驗室中的需求定制,并提供同步加速器的技術(shù),有無(wú)與倫比的價(jià)值。利用PILATUS獨特的功能,可以從你的*具挑戰性的樣品獲得*佳的數據。
針對您的需求
PILATUS探測器成功推動(dòng)和同步加速器光束線(xiàn)。PILATUS的獨特功能在實(shí)驗室和相關(guān)產(chǎn)業(yè)的優(yōu)勢也很明顯。根據您在實(shí)驗室的需求,現在DECTRIS的產(chǎn)品陣容,輔以***系列的PILATUS探測器,。固定能量校準和簡(jiǎn)化的讀數電子器件完美匹配了實(shí)驗室相關(guān)要求而且PILATUS完全符合您的預算?;旌舷袼丶夹g(shù)和單光子計數,關(guān)鍵的技術(shù),優(yōu)質(zhì)的數據和高效率,完全無(wú)障礙實(shí)施是PILATUS探測器的優(yōu)勢。越來(lái)越多的實(shí)驗室和工業(yè)應用的儀器可配備或升***了PILATUS探測器。根據自己的設置或利益自由整合PILATUS,可以從***個(gè)現成的儀器變成***個(gè)DECTRIS OEM合作伙伴
合作伙伴
PILATUS探測器是硅材料光子探測器合作:
-醫療設備配套
-JJ X射線(xiàn)
- 科學(xué)研究
- 材料探測
傳感器層厚度[μm]
X射線(xiàn)能量 | 320 | 450 | 1000 |
5.4千電子伏(CR) | 94% | 94% | 》80% |
8.0千電子伏特(銅) | 97% | 98% | 96% |
9.2千電子伏特(GA) | 94% | 97% | 97% |
17.5千電子伏(MO) | 37% | 47% | 76% |
22.2千電子伏(銀) | 20% | 27% | 50% |
表1:在BESSY II PTB實(shí)驗室測量的基礎上PILATUS傳感器的量子效率。
可定制,以符合您的要求
除了標準的320微米厚的硅傳感器,你可以自定義您的PILATUS探測器450或1000微米厚的硅傳感器相匹配的能量X射線(xiàn)源(見(jiàn)表1)。這實(shí)現了所有常見(jiàn)的實(shí)驗室X射線(xiàn)能量高量子效率。
水冷機型PILATUS 300K和300K-W提供了可選的真空兼容性。此定制使得操作檢測器時(shí),在真空中,如在飛行管SAXS工具。連續可調的能量閾值的選項可以抑制熒光信號。
關(guān)鍵優(yōu)勢
- 直接單光子計數模式中的X射線(xiàn)檢測
- 無(wú)讀數噪聲
- 無(wú)暗電流
- ***的點(diǎn)擴散函數
- 高動(dòng)態(tài)范圍
- 讀出時(shí)間短
- 高幀速率
- 局部和全局的計數率
應用
- 生物大分子晶體(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- X-射線(xiàn)衍射(XRD)
- 小廣角散射(SAXS/廣角)
- 表面衍射
- 漫散射
- 時(shí)間分辨實(shí)驗
- 成像
- 無(wú)損檢測
PILATUS200K
ILATUS200K功能的有效面積為84*70毫米,是用X射線(xiàn)應用廣泛的理想檢測設備。這是*緊湊的檢測器,使您可以充分利用所有PILATUS功能。 SCD和XRD與PILATUS的當地和全球的高計數率,遠遠優(yōu)于基于氣體放電或類(lèi)似技術(shù)的計數探測器取得優(yōu)異成績(jì)。精巧的前部殼體和緊湊的尺寸能夠檢測在高的衍射角,使密閉空間有效地利用周?chē)臉悠?。全風(fēng)冷和低功率消耗,PILATUS200K是***個(gè)免服務(wù)和維修的探測器系統。
PILATUS 300K
PILATUS300K是在實(shí)驗室中檢測綜合大分子分子晶體和SAXS完美的探測器。結合快門(mén)數據采集,傳感器面積大,可以輕而易舉的采集斑點(diǎn)的大單元的高分辨率衍射數據。出色的穩定性,可使用水冷式的檢測器,即使是很長(cháng)的曝光時(shí)間,也具有準確的精度,以確定和減去溶劑散射SAXS測量。此外,還可以利用可選的真空兼容的探測器。
PILATUS300K-W
PILATUS300K-W寬的矩形區域是非常適合WAXS2-D紋理分析和粉末衍射。超薄感受的主機,與允許定位的探測器直接光束非常接近,為您帶來(lái)極致的探測器測量廣角***個(gè)SAXS/ WAXS設置的信號。300K-W PILATUS還設有真空兼容性作為***個(gè)自定義選項。
在您的實(shí)驗室切片精細
圖1:精細φ-與PILATUS切片。每個(gè)數據集收集壓痕旋轉寬度和每幅
圖像的曝光時(shí)間只有30分鐘,在相同的角度為0.1°/ s的速度,在
圖例中表示。獲得出色的數據采集時(shí)間短。利用細片與無(wú)噪PILATUS
的數據收集,導致*佳的數據質(zhì)量(胰島素,180°旋轉,
總額微焦點(diǎn)sealedtube,PILATUS300K)。
應用
實(shí)驗室SAXS PILATUS
PILATUS探測器非常適合在內部SAXS儀器由于其高動(dòng)態(tài)范圍,沒(méi)有讀出噪聲和暗電流,高靈敏度性和超強的穩定性。高Q-范圍測量極其微弱的信號,需要很長(cháng)的曝光時(shí)間。由于完全沒(méi)有暗電流,PILATUS探測器擅長(cháng)在長(cháng)曝光時(shí)間,提供卓越的數據。另***個(gè)優(yōu)勢是使用PILATUS時(shí),檢測穩定性高,允許確定的精度,甚至很長(cháng)的曝光時(shí)間減去溶劑散射。這種出色的穩定性混合像素技術(shù)簡(jiǎn)單,是非常穩定的水冷相結合的單光子計數結果。
PILATUS準確測量環(huán)的微弱信號的表現可圈可點(diǎn),使您能夠成功處理稀釋了的樣本。 SAXS與體積排阻色譜相結合,是***個(gè)功能強大的聚集或易降解系統,短暫的復合物,以及多個(gè)齊聚狀態(tài)的方法來(lái)研究。***個(gè)無(wú)噪聲PILATUS探測器,使這些稀釋的樣本,研究可行的實(shí)驗室[2]。此外,高幀速率和較短的讀出時(shí)間也允許精細的樣本數據采集的過(guò)程蛋白質(zhì)洗脫而采集時(shí)間化。精細采樣數據收集的超過(guò)長(cháng)期總曝光時(shí)間是常規小角X射線(xiàn)散射實(shí)驗也非常有用的,因為它揭示了在數據采集過(guò)程中輻射損傷的有價(jià)值的信息。
實(shí)驗室MX PILATUS
*佳的精度測量弱高分辨率反射確定地圖的質(zhì)量和*終的成功大分子晶體。弱反射該signal-to-noise比特別是改善由在PILATUS探測器和鋒利的點(diǎn)擴散函數,從而降低了重疊的衍射強度與散射背景的情況下的檢測器噪聲。此外,細切片的策略可以用于通過(guò)沿旋轉方向和背景重疊*小化減少光斑的重疊(圖1),以進(jìn)***步提高數據的質(zhì)量。無(wú)噪音PILATUS探測器允許*優(yōu)罰金切片[1],而CCD或CMOS有源像素探測器需要妥協(xié),因為讀出或復位噪聲。
實(shí)驗逐步與功能在您的內部系統可以同步電子光束,光束穩定是至關(guān)重要的。這個(gè)優(yōu)勢化室內源匹配與PILATUS。***個(gè)高度穩定的室內源無(wú)噪聲的影響與VITY探測器相結合,在S-SAD和其他實(shí)驗方法逐步增加你的成功數據的準確性是至關(guān)重要的。
PILATUS探測器讀出的時(shí)間只有7毫秒的完整圖像,使快門(mén)數據采集連續旋轉。這降低了總的采集時(shí)間,并限度地提高效率,***個(gè)關(guān)鍵的優(yōu)勢,在高通放的應用,如片段篩選。而且,連續旋轉數據收集允許收集精細的切片數據集,具有相同的寬切片數據的采集時(shí)間。
技術(shù)
混合像素技術(shù)
混合像素探測器的X射線(xiàn)直接轉換成電子信號。其他類(lèi)型的X射線(xiàn)檢測器依賴(lài)間歇性步驟捕獲和X-射線(xiàn)轉換。
例如CCD和CMOS有源像素探測器,,必須先將X射線(xiàn)轉換成可見(jiàn)光。出信號的光散射,在熒光屏所需的轉換
涂片劣化和空間分辨率。玻璃纖維光學(xué)芯片上的光,這將導致進(jìn)***步的損失和失真的信號轉導。這些CCD和
有源像素探測器固有的設計缺陷在混合像素探測器是不存在的?;旌舷袼丶夹g(shù)可以直接檢測的X射線(xiàn),這提
供了優(yōu)越的空間分辨率和提高了探測效率。在***種混合的像素檢測器的每***個(gè)像素是由兩種組分的傳感器像
素讀出的像素(圖2)。 X射線(xiàn)光子直接轉換成電荷,在傳感器像素,讀出的像素的操作和計數該電信號。傳
感器和讀出像素有***個(gè)直接的,個(gè)人的電子連接,每***個(gè)混合像素并防止蔓延和信號損失。這使得每***個(gè)混 如圖2所示的固態(tài)傳感器直接檢測的X射線(xiàn)光子的原理由
合的像素幾乎獨立的X射線(xiàn)探測器,并達到點(diǎn)的價(jià)差,的靈敏度和*終速度。
圖3:在PILATUS混合的像素探測器的沒(méi)有讀出噪聲和暗電流。
畫(huà)像***個(gè)單***的PILATUS的模塊,但不暴露在100毫秒或1小時(shí)的采集時(shí)間的X-射線(xiàn)源與。后100毫秒時(shí),
所有像素具有零計數,在讀出的圖像的過(guò)程中,因為沒(méi)有噪聲被添加。 1小時(shí)后,大多數像素仍然沒(méi)有暗
電流累積的零計數時(shí)間的長(cháng)曝光期間,并沒(méi)有在讀出噪聲被添加。所有在曝光的罪名從***般背景輻射產(chǎn)生,
占0.15分/小時(shí)/像素。
單光子計數
自由電荷被釋放在傳感器像素中通過(guò)X射線(xiàn)吸收。X射線(xiàn)信號通過(guò)單管子計數模式讀出像素進(jìn)行處理表現出了了比整合信號更多的優(yōu)點(diǎn)。。在***個(gè)積分檢測器中,在曝光期間積累的電荷。整個(gè)集成,暗電流的特性被添加到累積電荷。暗電流增加噪音和減少數據的質(zhì)量。在單光子計數檢測器,計數單個(gè)事件的X射線(xiàn)吸收所釋放的電荷的信號是由讀出的像素的電荷放大,如果信號超過(guò)***個(gè)可調節的閾值,吸收事件數字計算。這樣***來(lái),單光子計數的技術(shù)完全廢除暗電流探測器噪聲源,并實(shí)現卓越的數據。此外,單光子計數發(fā)生在飛行過(guò)程中的曝光,實(shí)現盡可能早的數字化和隨后的快速的無(wú)噪音的數字讀出。因此,讀數噪音作為***個(gè)主要的整合探測器來(lái)源,完全沒(méi)有出現在單光子計數探測器中。
特點(diǎn)
*佳信號噪聲比
PILATUS混合像素探測器的暗電流和讀出噪聲(圖3)本質(zhì)上是沒(méi)有暗電流和噪音的。探測器沒(méi)有噪聲能夠確保得到***個(gè)良好的信號噪聲比的數據。相比傳統的探測器,這使得在相同曝光時(shí)間內獲得更優(yōu)質(zhì)的數據或者采集到同樣的數據需要更短的采集時(shí)間。,從衍射不佳的樣品或在分辨率記錄微弱信號時(shí),無(wú)噪聲檢測器便顯示出其的優(yōu)勢。
優(yōu)異的點(diǎn)擴散函數
混合像素技術(shù)和直接轉換到充電脈沖的X射線(xiàn),PILATUS探測器傳播的像素之間幾乎沒(méi)有強度。這使***個(gè)像素形成尖銳的點(diǎn)擴散函數(FWHM),并提供了各種各樣的好處(圖4)。間隔緊密的信號,甚至在很大程度上不同的強度,可以更加準確地解決和測量。更清晰的信號,減少了散射的重疊或其他實(shí)驗固有的特點(diǎn),從而改善了信號 – 噪聲比。
高動(dòng)態(tài)范圍
計數器深度20位(約100萬(wàn)計數),結合探測器無(wú)噪聲的特點(diǎn),確保了前所未有的對比度和動(dòng)態(tài)范圍,另***個(gè)PILATUS標志是帶來(lái)了***的圖像和數據質(zhì)量(圖4)。極強和極弱的信號可以通過(guò)單***的成像就能夠準確的檢測到。
快速讀出和快門(mén)操作
PILATUS探測器實(shí)驗室儀器讀出完整的圖像,以閃電般的速度僅為7毫秒。這使得快門(mén),連續采集的完整圖像。
幾乎瞬時(shí)讀數連續數據采集化了工作效率和任意儀器的吞吐數據。
高局部和全局的計數率
PILATUS設有***個(gè)非常的ASIC技術(shù)實(shí)現單光子計數。這允許精確地檢測到每***個(gè)像素中每秒***百萬(wàn)的光子。由于每***個(gè)像素是***個(gè)幾乎獨立的檢測器,全局計數率和像素的數量形成規模。以這種方式,PILATUS探測器實(shí)現每秒和每平方厘米數十億的光子的全局計數率。局部和全局的計數率的PILATUS探測器是遠遠優(yōu)于那些基于氣體放電或類(lèi)似技術(shù)的計數探測器。
易于維護和操作
PILATUS探測器具有低功耗和冷卻需求。所有檢測器組件,在室溫下操作,這大大簡(jiǎn)化了冷卻。
PILATUS200K探測器是完全風(fēng)冷和免維護。 PILATUS300K和300K-W采用低維護,閉路冷卻水
的溫度穩定在23℃。
圖4:PILATUS混合探測器的優(yōu)異的動(dòng)態(tài)測量范圍和點(diǎn)擴散函數
衍射圖像的細節顯示出胰島素晶體的相同反射。這些圖像被獲取在***個(gè)同步加速光束線(xiàn)和相
同的技術(shù)參數除了探測器距離,根據探測器尺寸來(lái)調整以達到探測器邊緣的相同的分辨率。
PILATUS:20位計數器深度混合像素探測器提供足夠的動(dòng)態(tài)范圍記錄727,716計數中像素*
高的強度。得益于***的點(diǎn)擴散函數斑點(diǎn)被局限在***個(gè)小的區域。此外,銳利的反射剖面的
低馬賽克性晶體精確地表示加上***個(gè)超過(guò)***千倍的相鄰像素之間的強度差異,CCD與CCD相
同的反射記錄包含許多重載像素的反射強度足以抹掉更大的面積。
PILATUS探測器系列技術(shù)規格
200k 300 k 300k-w
探測器模塊數量 | 1*2 | 1*3 | 3*1 |
敏感區域:寬×高像素尺寸面積[mm2][平方微米] | 83.8*70.0 | 83.8*106.5 | 253.7*33.5 |
像素尺寸 | | 172*172 | |
總的像素數 | 487*407=198’209 | 487*619=301’453 | 1475*195=287’625 |
死區/模塊有缺陷的 | 4.3% | 5.5% | 0.9% |
像素之間的差距 | | 《0.03% | |
幀速率[赫茲] | | 20 | |
讀數時(shí)間[ms] | | 7 | |
點(diǎn)擴散函數 | | 1pixel(fwhm) | |
計數器深度 | | 20bits(1,048,576counts) | |
功耗[W] | 24 | 30 | 30 |
尺寸(WHD)[MM3] | 158*157*276 | 158*193*262 | 280*62*296 |
重量[kg] | 5.4 | 7.5 | 7.0 |
冷卻 | Air-cooled | Water-cooled | Water-cooled |
X射線(xiàn)能量 | 鉻,錳,鐵,銅,鎵,鉬,銀靶線(xiàn) |
標準配置 | 320微米的硅傳感器、兩個(gè)X-射線(xiàn)能量的校準 |
探測器選擇 | 450或1000微米的硅傳感器、為兩個(gè)以上的X射線(xiàn)能量的校準、連續閾值(3.5-18千電子伏)、連續閾值(2.7 - 18千電子伏)真空兼容性 |
高性能光子急速計數探測器
混合像素探測器的性能:
l Pilatus3混合像素探測器為要求苛刻的同步應用程序提供終極的性能。在*新的***代產(chǎn)品中,Pilatus X射線(xiàn)探測器系統已經(jīng)達到成熟和穩定的水平。改進(jìn)后的Pilatus3 CMOS讀出電路的特點(diǎn)采用DECTRIS即時(shí)觸發(fā)技術(shù),這使得非Paralyzable不僅增強了高速率技術(shù)的性能,減少了讀取時(shí)間,并允許更精確的計數率校正。DECTRIS即時(shí)重新觸發(fā)技術(shù)克服了以前的光子計數探測器固有的計數率限制。該Pilatus3是我們在完善單光子計數工作中努力的結果。
l 卓越的數據質(zhì)量,高速的數據采集和靈活的操作模式是所有PILATUS檢測器系統的主要優(yōu)點(diǎn)。卓越的數據質(zhì)量是通過(guò)各種獨特的功能來(lái)實(shí)現的:不存在讀出噪音和暗電流,尖點(diǎn)擴散函數,和20比特(?100萬(wàn)個(gè)計數)的***種高動(dòng)態(tài)范圍和計數器的深度??焖贁祿杉峭ㄟ^(guò)的CMOS ASICS和讀出電子來(lái)實(shí)現的。***個(gè)簡(jiǎn)單而通用的接口觸發(fā)和控制檢測器并且允許納秒的精確同步,使得操作模式更為廣泛。
關(guān)鍵優(yōu)勢:
l 計數率高達10MCTS /秒/像素
l 速率可達500 Hz
l 讀數時(shí)間0.95毫秒
l 在單光子計數模式下直接檢測X射線(xiàn)
l 無(wú)讀出噪音
l 無(wú)暗電流
l ***的點(diǎn)擴散函數
l 20位計數器
應用范圍
l 高分子結晶(MX)
l 單晶衍射(SCD)
l 表面衍射
l 小型、廣角X-射線(xiàn)散射(SAXS / WAXS)
l 相干X射線(xiàn)成像
l 臨床X射線(xiàn)成像
l 時(shí)間分辨實(shí)驗