二探針單晶硅測試儀 二探針多晶硅測試儀 晶硅測試儀
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-19 10:20
品 牌：型 號：JC502-GL-1
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1766
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本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。 為適應大規模集成電路的迅猛發(fā)展，特別是計算機芯片、內存的發(fā)展，越來(lái)越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前，在美***、德***等的工業(yè)******，均采用了二探針?lè )?，使用二探針檢測儀來(lái)測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。 儀器符合美***ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是***種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠(chǎng)和器件廠(chǎng)用于二探針?lè )ň_測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而進(jìn)***步判斷半導體材料的性能，指導和監視工藝操作，也可以用來(lái)測量金屬材料的電阻，儀器具有測量精度高、穩定性好、結構緊湊、使用方便、造型美觀(guān)等特點(diǎn)。也可以配四探針測試頭作常規的四探針?lè )y量硅晶體材料。 儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結果由大型LED數字顯示，零位穩定、輸入阻抗高，并設有自校功能。在棒狀材料使用二探針?lè )y試時(shí)，具有系數修正功能，從面板輸入相應的修正系數，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，造型美觀(guān)，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點(diǎn)選擇步進(jìn)測量，也可以自由選擇固定位置測量，電極活動(dòng)自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動(dòng)升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長(cháng)特點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調整，以適合不同的材料。 儀器主要技術(shù)指標： 1.可測硅材料尺寸： 直徑Φ25~Φ150mm滿(mǎn)足ASTM F-397的技術(shù)要求。 長(cháng)度：100~1100mm. 2.測量方式：軸向測量，每隔10mm測量***點(diǎn)。 3.測量電阻率范圍：10-3~103Ω-cm,可擴展到105Ω-cm。 4.數字電壓表： （1）量 程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V （2）測量誤差：±0.3%讀數±2字 （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>106Ω 20mV檔及以上>108Ω （4）顯 示：31/2位LED數字顯示，范圍0~1999。 5.恒流源： （1）電流輸出：直流電流0~100mA連續可調。 （2）量 程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA （3）電流誤差：±0.3%讀數±2字 6.二探針測試裝置： （1）探針間距：4.77mm （2）探針機械游移率：0.3% （3）探針壓力：0~2kg可調 （4）測試探頭自動(dòng)升降 7.二探針測試臺 （1）測試硅單長(cháng)度：100-1100mm （2）測試點(diǎn)間距：10mm （3）測試臺有慢、快二種移動(dòng)速度，快速移動(dòng)速度為1000mm/分（均勻 手動(dòng)） 8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
