ALD實(shí)時(shí)監測儀RTM
SENTECH ALD實(shí)時(shí)監測儀是***種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單***ALD循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(cháng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ALD循環(huán)中的反應機理是SENTECH ALD實(shí)時(shí)監測儀的主要應用。
ALD實(shí)時(shí)監測儀的優(yōu)勢
工藝開(kāi)發(fā)與優(yōu)化
使用單***ALD循環(huán)可快速和簡(jiǎn)易地開(kāi)發(fā)和優(yōu)化ALD工藝。ALD實(shí)時(shí)監測儀顯示了高達40ms分辨率的吸附和解吸過(guò)程。顯著(zhù)節省了研發(fā)時(shí)間,襯底,前驅體和氣體。
節省前驅體
通過(guò)ALD實(shí)時(shí)監測儀,ALD工藝變得更加有效。節省了前驅體和工藝時(shí)間。
前驅體控制
當前驅體供應快要用盡時(shí),ALD實(shí)時(shí)監測儀會(huì )立即檢測到的每個(gè)周期的增長(cháng)變化。
SENTECH ALD實(shí)時(shí)監測儀是***種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單***ALD循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(cháng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ALD循環(huán)中的反應機理是SENTECH ALD實(shí)時(shí)監測儀的主要應用。
創(chuàng )新的ALD實(shí)時(shí)監測儀是特別為快速和有效的工藝開(kāi)發(fā)而設計,可優(yōu)化SENTECH原子層沉積設備。該軟件使SENTECH ALD系統和ALD實(shí)時(shí)監測儀易于操作。ALD實(shí)時(shí)監測儀完全集成到SENTECH ALD系統軟件中,確保操作簡(jiǎn)單。