德國Sentech光伏測量?jì)x
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 19:07
品 牌:型 號:SENperc PV
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1950
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
聯(lián) 系 人:
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話(huà):
400-006-7520
傳 真:
400-006-7520
配送方式:
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時(shí)請說(shuō)在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
太陽(yáng)能電池制造中的質(zhì)量控制解決方案SENperc PV光伏測量?jì)x
SENperc PV 是PERC電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng )新解決方案。SENperc PV 測量Al2O3/SiNx堆疊層和用于鈍化PERC電池的單層膜。監測沉積過(guò)程的穩定性。由此,可以?xún)?yōu)化維護時(shí)間間隔。
多晶硅和C-Si基太陽(yáng)能電池的質(zhì)量控制解決方案
SENperc PV是為PERC太陽(yáng)能電池制造質(zhì)量控制而設計的。它測量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜,這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對沉積過(guò)程的穩定性進(jìn)行長(cháng)時(shí)間的監測。由此,優(yōu)化了維護時(shí)間間隔。
Al2O3和SiNx薄膜的厚度和折射率指數測量
SENperc PV 配備了基于配方的用于質(zhì)量控制按鈕操作。在樣品臺上放置***個(gè)PERC電池,涂有涂層的背面朝下以控制鈍化層。晶體硅太陽(yáng)能電池插入到***個(gè)特殊的晶片架來(lái)分析防反射涂層。不需要對準。雜散光不影響測量。測量到的厚度和折射率指數被保存到SQL數據庫中。
SiO2、Al2O3和SiNx沉積的長(cháng)期穩定性監測
統計制程控制(SPC)被應用于PERC太陽(yáng)能電池的評估。預置范圍應用于良率分析。向操作人員提供直接和長(cháng)期的反饋,以便立即進(jìn)行干預。SQL數據庫在本地以及通過(guò)LAN可訪(fǎng)問(wèn),以支持電池跟蹤和良率分析。除了按鈕操作之外,SENpercPV還配備了強大的軟件接口,用于新配方的研發(fā)。