Thermo Scientific? Quattro? 掃描電鏡將成像和分析的全面性能與獨特的環(huán)境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
如今，研究型實(shí)驗室普遍要求現代的掃描電鏡可以適應多種多樣
的樣品分析需求，希望在獲得出色的圖像質(zhì)量的同時(shí)盡可能簡(jiǎn)化
樣品制備過(guò)程。Quat t r o 的場(chǎng)發(fā)射槍?zhuān)‵EG）確保了優(yōu)異的分辨
率，通過(guò)不同的探測器選項，可以調節不同襯度信息，包括定向背散
射、STEM 和陰極熒光信息。來(lái)自多個(gè)探測器和探測器分區的圖像可以
同步采集和顯示，使得單次掃描即可獲得各種樣品信息，從而減低束敏
感樣品的束曝光并實(shí)現真正的動(dòng)態(tài)實(shí)驗。
Quattro 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM?）使得系統極
具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類(lèi)型，包括放
氣或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。此外，ESEM?可以在現實(shí)世界
的條件下對樣品進(jìn)行原位研究，例如濕/潮濕、熱或反應性的環(huán)境。
Quattro 的分析樣品倉可以滿(mǎn)足日益增長(cháng)的樣品元素信息及晶體結構分
析需求，它同時(shí)支持相對的雙能譜（EDS）探測器、共面能譜（EDS）/電子
背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測器。無(wú)論什么類(lèi)型的樣
品，在高真空下或與 Quattro 支持的獨特實(shí)驗條件相結合，無(wú)論樣品導
電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下，均可獲得可靠的分析結果。
由于多用戶(hù)設施要求大量操作人員都能獲得所有相關(guān)數據，同時(shí)盡可能
縮短培訓時(shí)間，所以易用性是至關(guān)重要的。Quattro 獨特的硬件由幫助功
能（用戶(hù)向導）支持，不僅可以指導操作者，還可以直接與顯微鏡進(jìn)行交
互。并且通過(guò)“撤消（Undo）”功能，鼓勵新手用戶(hù)進(jìn)行實(shí)驗，而專(zhuān)***用戶(hù)
可以輕松縮短結果獲取時(shí)間。
主要優(yōu)勢
在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究：具有環(huán)境真空模式（ESEM）的獨特高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
程度縮短樣品制備時(shí)間：低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無(wú)荷電累積
在各種操作模式下分析導電和不導電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像
安裝原位冷臺、珀爾帖冷臺和熱臺，可在-165°C 到 1400°C 溫度范圍內進(jìn)行原位分析
卓越的分析性能，樣品倉可同時(shí)安裝三個(gè) EDS 探測器，其中兩個(gè) EDS端口分開(kāi) 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD
針對不導電樣品的卓越分析性能：憑借“壓差真空系統”實(shí)現低真空模式下的精確 EDS 和 EBSD 分析
靈活、精確的優(yōu)中心樣品臺，105°傾斜角度范圍，可全方位觀(guān)察樣品
軟件直觀(guān)、簡(jiǎn)便易用，并配置用戶(hù)向導及 Undo（撤銷(xiāo)）功能，操作步驟更少，分析更快速
全新創(chuàng )新選項，包括可伸縮 RGB 陰極熒光（CL）探測器、1100°C 高真空熱臺和 AutoScript（基于 Python 的腳本工具 API）
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
