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蔡司鎢燈絲掃描電鏡ZEISS EVO MA 25/LS 25

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:21

品  牌:型  號:EVO MA 25/LS 25

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1813

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配送方式: 上海自提或三方快遞

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詳細描述:


品牌:卡爾?蔡司

 型號:EVO MA 25

制造商:德***卡爾蔡司公司

 經(jīng)銷(xiāo)商:歐波同有限公司


 【品牌故事】 
        
世界光學(xué)品牌,可見(jiàn)光及電子光學(xué)的領(lǐng)導企業(yè)----德***蔡司公司始創(chuàng )于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋),積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗,ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng )造了數個(gè):

    臺靜電式透射電鏡 (1949) 
    
臺商業(yè)化掃描電鏡 (1965) 
    
臺數字化掃描電鏡(1985) 
    
臺場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(1990) 
    
臺帶有成像濾波器的透射電鏡 (1992) 
    
臺具有Koehler照明的 200kV 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003) 
    
臺具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003)

     CARL ZEISS以 其前瞻性至臻完美的設計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的***地位。自成立至今,***直延續不斷創(chuàng )新的傳統,公司擁有電鏡制造*核心 的專(zhuān)有技術(shù),隨著(zhù)離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是全球為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩定性已得到全世界廣大用戶(hù)的信賴(lài)與認可。作為全球電鏡標準***的CARL ZEISS將***路領(lǐng)跑高端電鏡市場(chǎng)為您開(kāi)創(chuàng )探求納米科技的嶄新紀元。

【總體描述】
               EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領(lǐng)域,LS 25用于生命科學(xué)領(lǐng)域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)***的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業(yè)界的X射線(xiàn)分析技術(shù)。Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時(shí)還可以進(jìn)行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動(dòng)控制。標準的高效率無(wú)油渦輪分子泵能夠滿(mǎn)足快速的樣品更換和無(wú)污染(免維護)成像分析。

【技術(shù)參數】
   
  分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W) 、4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
     加速電壓:0.2―30KV
     放大倍數:5―1000000x
     探針電流:0.5PA-5μA
     X-射線(xiàn)分析工作距離:8.5mm 、35度接收角
     低真空壓力范圍:10―400Pa (LS25:10-3000Pa)
     工作室:420mm(φ)×330mm(h)
     5軸試樣載物臺:X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°
     試樣高度:210mm,試樣直徑:300mm
     系統控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系統
     存儲分辨率:32,000 × 24,000 pixels

【主要特點(diǎn)】
    
的樣品高度可達210mm  
     
樣品重量5Kg  
     
的樣品直徑300mm  
     
能在可變壓力下操作 
     
高亮度LaB6資源選擇 
     
光線(xiàn)套選擇

【產(chǎn)品應用】
       掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀(guān)形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀(guān)察,材料斷口分 析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。



產(chǎn)品參數


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