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S8000G是TESCAN*新S8000系列掃描電鏡的個(gè)新成員，是***款超高分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量，具有強大的擴展分析能力，并能以極佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿(mǎn)足現今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

• 新***代鏡筒內電子加速、減速技術(shù)，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀(guān)測能力

• ***次配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現磁性樣品高分辨成像及分析
  

• 配置4個(gè)新***代探測器，可實(shí)現9種圖像觀(guān)測，對樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴展接口，為原位觀(guān)測、分析創(chuàng )造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并獨***實(shí)現與TOF-SIMS、Raman聯(lián)用

• 新***代操作軟件和自動(dòng)功能，FIB鏡筒具有全自動(dòng)的離子鏡筒對中，極大簡(jiǎn)化了操作

新***代 Orage? Ga FIB鏡筒，適用于各類(lèi)具有挑戰性的納米加工任務(wù)

TESCAN S8000配置了*新的BrightBeam?鏡筒，實(shí)現了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以化的實(shí)現各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率，特別適合對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析。創(chuàng )新的Orage? Ga FIB鏡筒配有的離子槍和離子光學(xué)鏡筒，使得TESCAN S8000G成為了世界的樣品制備和納米圖形成型的儀器。

S8000G束流可達100nA，具有超快速的加工能力，新穎的SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升***倍。
S8000G離子能量可達500eV，擁有更***的低壓樣品制備能力，可以快速制備無(wú)損超薄TEM樣品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并獨***實(shí)現與TOF-SIMS、Raman***體化。


新***代OptiGIS?氣體注入系統

S8000可配置*新的多種探測器，包括透鏡內Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號，體現更多種類(lèi)的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對比度。S8000G有兩種氣體注入系統可供選擇，標準的5針-GIS和新***代OptiGIS單針-GIS，單針的OptiGIS支持通過(guò)更換氣罐來(lái)更換化學(xué)氣體，避免了以往多針氣體注入系統樣品倉內占用空間大的問(wèn)題。

兩種氣體注入系統均可以選擇多種沉積氣體，其中W、Pt、C等用于導電材料沉積，SiOx用于絕緣材料沉積，XeF2、H2O等用于增強刻蝕，或其它定制氣體。

新***代Essence?操作軟件，更簡(jiǎn)單、高效的操作平臺

S8000可配置*新的多種探測器新操作軟件極大簡(jiǎn)化了用戶(hù)界面，能快速訪(fǎng)問(wèn)各主要功能，減少了繁瑣的下單菜單操作，并優(yōu)化了操作流程向導，易于學(xué)習，兼容多用戶(hù)需求，可根據工作需要定制操作界面。

新穎的樣品艙內3D空間位置和移動(dòng)軌跡模擬功能，可避免誤操作，造成碰撞。


樣品艙內的3D空間位置和移動(dòng)軌跡模擬


集成多項創(chuàng )新性設計，拓展新應用領(lǐng)域的利器

S8000可配置*新的多種探測器S8000G是TESCAN新***代FIB-SEM的***個(gè)成員，集成了BrightBeam? SEM鏡筒、Orage? GaFIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統等多項創(chuàng )新設計，在高分辨能力、原位應用擴展能力和分析擴展能力方面達到了業(yè)內水平，此外新***代操作流程和軟件也給使用者帶來(lái)更舒適、高效的體驗。