日本電子 JSM-7100F 掃描電鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:19
品 牌:型 號:JSM-7100F
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1315
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JSM-7100F肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics(高性能電子光學(xué)系統),操作非常方便。
基于用戶(hù)友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合,如低加速電壓下高分辨率的觀(guān)察和分析、異種信號的同時(shí)觀(guān)察 (TTLS系統)、低真空模式(LV系統)下的觀(guān)察和分析、用大視場(chǎng)觀(guān)察和分析(LDF系統)等,可以滿(mǎn)足每個(gè)用戶(hù)的個(gè)性化需求。
由于在樣品附近沒(méi)有磁場(chǎng)泄漏,對磁性材料樣品的高分辨率觀(guān)察和EBSD測試非常有效,是***款對所有材料的形貌觀(guān)察及各種分析能發(fā)揮威力的多功能掃描電鏡。安裝選配件TTL能獲得更多的樣品信息。此外,配合使用Gentle Beam (GB模式即柔和光束),以數百電子伏的極低能量可以觀(guān)察樣品的淺表面。
注:該儀器未取得中華人民共和***醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途