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MultiMode V SPM 是世界銷(xiāo)量的掃描探針顯微鏡。它能夠提供全部的原子力顯微鏡 (AFM) 和掃描隧道 (STM) 顯微鏡成像技術(shù)，可以測量樣品的表面特性，如形貌、粘彈性、摩擦力、吸附力和磁/電場(chǎng)分布等等。樣品和探針之間的簡(jiǎn)略機械設計確保了系統的的掃描速率和的準確性。 

該系統集成的全新 NanoScope V控制器確保了可靠、高速的數據采集能力，采集空間可達 5000×5000 的高象素密度。因而研究人員可以在之前的SPM技術(shù)中是無(wú)法實(shí)現的時(shí)間分辨內記錄和分析針尖——樣品相互作用。這種劃時(shí)代的控制器設計允許同時(shí)采集和顯示多達8個(gè)通道的圖形和數據；支持強大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡(jiǎn)約的圖形化用戶(hù)界面軟件，尤其適合于初學(xué)者以及經(jīng)常重復同***模式、同***類(lèi)操作的用戶(hù)。品平移臺。

1.Multimode V產(chǎn)品手冊 
2.TappingMode Imaging: Application ａnd Technology 
3.Lateral ａnd Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction ａnd Adhesion 
4.TappingMode AFM Imaging in Fluids for the Study of Colloidal Particle Adsorption 
5.Phase Imaging: Beyond Topography 
6.原子力顯微鏡扭轉共振成像模式（TR-Mode)介紹 
7.骨膠原纖維的大范圍高分辨AFM形貌圖分析 
8.探針懸臂彈性常數的使用建議 
9.單個(gè)細菌粘附的AFM形貌及力譜研究 
10.原子力顯微鏡探針彈性系數的熱調制測定法 
11.如何用原子力顯微鏡探測DNA與蛋白質(zhì)間的相互左右 
12.用原子力顯微鏡直接表征單個(gè)免疫復合物形成機理 
13.AFM與SEM：高分辨率表征手段上的互補 
14.液態(tài)環(huán)境中的輕敲模式

多達5120×5120象素的圖像可以大大減少等待結果的時(shí)間，用戶(hù)不必再費力地***遍遍地去改變圖像觀(guān)察和數據采集的位置，或者將***些低象素數的圖像拼合在***起以獲得大范圍高分辨圖像。 

使用該控制器，用戶(hù)可以方便地通過(guò)前置面板上的BNC接口輸入和輸出絕大多數的信號。用戶(hù)可以將來(lái)自外部信號源（如光電倍增管）輸入控制器；可以將信號傳遞給鎖相放大器；也可以獲取和分析顯微鏡的數據或將其反饋給顯微鏡（如XYZ傳感器信號、振幅、相位等）。這些功能可以被任何基于Microsoft組件對象模塊（Component Object Model, COM）的外部軟件所調用。 

EASY-AFM，重要的操作簡(jiǎn)化為了使整體的操作流程簡(jiǎn)單易行，NanoScope V控制器支持Easy-AFM?傻瓜式界面控制軟件，提供***種易學(xué)易用的圖形化用戶(hù)界面。對于大多數樣品，Easy-AFM均可以大大縮短樣品測試所耗費的時(shí)間，這取決于改控制界面簡(jiǎn)化了從儀器初始化過(guò)程（包括探針、激光和檢測器的調節）、探針逼近樣品、掃描參數調節到獲得TappingMode圖像的全過(guò)程。.