AFM檢測性能的全新定義
Dimension Icon展現出無(wú)與倫比的檢測性能，功能全面，簡(jiǎn)便易用，為高質(zhì)量AFM成像和相關(guān)科學(xué)檢測設定了新的標準，科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者完成出色的研究工作，輕松獲得納米尺度上的檢測結果。
Bruker Dimension® Icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的AFM應用體驗，其測試功能強大，操作簡(jiǎn)便易行。仍然以世界上應用*廣泛的AFM大樣品平臺為 基礎，齊集 Dimension系統數十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶(hù)反饋，結合工業(yè)領(lǐng)域的設備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統設計，實(shí)現了前所未有的低漂移和低噪音水平， 現在用戶(hù)只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準確的掃描圖像。
Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst（自動(dòng)掃描成像模式），用戶(hù)可以簡(jiǎn)易快捷地獲得重復性更好的數據，并且降低了對客戶(hù)操作經(jīng)驗和操作水平的要求。作為目前配置的AFM，保證客戶(hù)高效完成所需的檢測任務(wù)。
聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，細胞表面形態(tài)觀(guān)察，生物大分子的結構及性質(zhì)，數據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研 究，食品、化學(xué)品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤(pán)存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質(zhì)、能源、環(huán)境 等領(lǐng)域
Dimension® Icon***的圖像分辨率，與Bruker特有的電子掃描算法相結合，顯著(zhù)提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處 于行業(yè)地位，*新的Dimension® Icon?是針尖掃描技術(shù)的又***次革新，配置溫度補償位置傳感器，實(shí)現了Z軸亞埃***和XY軸埃***的低噪音水平，將其應用在90微米掃描范圍的大樣品臺體 系 上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺AFM的開(kāi)環(huán)噪音水平。全新設計的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會(huì )損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現了更大的數據 采集輸出量。
終極體驗
獨特的傳感器設計，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開(kāi)環(huán)噪音水平***樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率
極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子***圖像
熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
XYZ閉環(huán)掃描器的完美設計，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數據采集效率
將十年的研發(fā)經(jīng)驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實(shí)驗模式。
高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
針尖和樣品之間開(kāi)放式的空間設計，不僅可以進(jìn)行各種標準實(shí)驗，也可以自行設計實(shí)驗方案，滿(mǎn)足不同研究工作的需求
硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng )新，新開(kāi)發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)
用戶(hù)實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測量方案和數據分析
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
