高性?xún)r(jià)比-多功能掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:17
品 牌：型 號：Solver P47-Pro
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2999
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儀器簡(jiǎn)介：
掃描探針顯微鏡(SPM)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質(zhì)而設計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個(gè)埃的尺寸下肉眼觀(guān)察并定量測量樣品的力學(xué)性質(zhì)（硬度，彈性，粘度），電學(xué)性質(zhì)（導電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質(zhì)。Solver 平臺擁有超過(guò)40 種測量方法，并且實(shí)現在大氣，氣氛控制以及液體環(huán)境下進(jìn)行工作。
技術(shù)參數：
測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調制/力譜/粘附力/ 磁力/ 靜電力/ 開(kāi)爾文/ 擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)
掃描方式：樣品掃描、針尖掃描、雙掃描
測量頭部：AFM和SPM，可選配液相模式
樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度10mm。針尖掃描：樣品無(wú)限制
XY樣品定位裝置：移動(dòng)范圍5×5um，精度5um
光學(xué)系統：根據客戶(hù)需求配置
樣品溫度控制：室溫~130℃
主要特點(diǎn)：
Solver P47-PRO SPM 是***種可以在空氣、液體和室溫～ 130°C 的可控氣氛下對不同的樣品進(jìn)行高精度綜合分析的通用儀器。此型號不僅適合小公司或學(xué)校的試驗室使用，同樣適合大的研究中心使用。其現代化的設計提供了的測量精度和大量的SPM技術(shù)?？蛇x配的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展到200x200um。該型號儀器現已裝備到全世界600多個(gè)實(shí)驗室，其中中***大陸正在使用的用戶(hù)達40多個(gè)。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
