使用Park NX10在nature上發(fā)表的論文有：
1）Probing charge screening dynamics and electrochemical processes at the solidCliquid interface with electrochemical force microscopy
2）Effect of pH on the structure and drug release profiles of layer-by-layer assembled films containing polyelectrolyte, micelles, and graphene oxide
3）Electrostatic-free piezoresponse force microscopy
4） Highly Permeable Graphene Oxide Polyelectrolytes Hybrid Thin Films for Enhanced CO 2N 2 Separation Performance
5） Surface Engineering for Mechanical Enhancement of Cell Sheet by Nano-Coatings
6）Polymorphic design of DNA origami structures through mechanical control of modular components
7）Micro 3D Printing of a Temperature- Responsive Hydrogel Using Projection Micro-Stereolithography
8）Nanostructured Polymer Thin Films Fabricated with Brush-based Layer-by-Layer Self-assembly for Site-selective Construction and Drug release
9）Origin of macroscopic adhesion in organic light-emitting diodes analyzed at different length scales
納米科學(xué)研究的*佳途徑
Park NX10為您帶來(lái)納米***分辨率的數據，值得您信賴(lài)、使用和擁有。無(wú)論是從樣品設定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專(zhuān)注于創(chuàng )新研究工作的同時(shí)提供高精度的數據。
Park SmartScan 智能模式
在SmartScan Auto獨有的智能模式下，系統自動(dòng)執行所有必要的成像操作，同時(shí)智能選擇*佳的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過(guò)Park的技術(shù)才得以實(shí)現的。它不僅可以為用戶(hù)節省時(shí)間和成本，還可以為用戶(hù)帶來(lái)的研究成果。
Park消除串擾技術(shù)
Park NX10可以為用戶(hù)帶來(lái)納米***分辨率的數據，它是全球***個(gè)實(shí)現真正非接觸模式的原子力顯微鏡，在延長(cháng)探針使用壽命的同時(shí)，還可以良好地保護樣品不受損壞，延長(cháng)樣品的使用壽命?？蓮澢莫毩⒌腦Y和Z掃描儀可帶來(lái)超強精確度和分辨率。
Park的原子力顯微鏡模式
Park原子力顯微鏡具有綜合的掃描模式，可幫助用戶(hù)準確有效地收集各種數據類(lèi)型。
1. 掃描范圍為50 μm x 50 μm 的2D掃描器
XY軸掃描器有對稱(chēng)的二維高強度壓電疊堆。它可為進(jìn)行精確的納米***樣品掃描，提供基本的面外高效正交運動(dòng)和高響應能力。Park NX10的這種緊密剛硬的構造具備低噪聲高速的伺服響應能力。
2. 高速Z軸掃描器，掃描范圍達15 μm
借助高強度壓電疊堆和撓性設計，標準Z軸掃描器的共振頻率高達9kHz(***般為10.5kHz）且探針的Z軸速率不低于48mm/秒。 Z軸掃描范圍可從標準的15 μm擴展至30 μm（可另選Z掃描頭）。
3. 低噪聲XYZ位置傳感器
行業(yè)的低噪聲Z軸探測器代替Z電壓作為形貌信號。低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。
4. 驅動(dòng)X(jué)Y軸樣品臺
XY軸樣品臺是驅動(dòng)化的，以便于將樣品導航并定位到掃描區域。這種驅動(dòng)臺在這兩個(gè)軸上的分辨率同為0.6um（使用微步）
5. 自動(dòng)步進(jìn)掃描
借助驅動(dòng)樣品臺，步進(jìn)掃描可編程多區域成像，以下是它的工作流程：
1. 掃描成像
2. 抬起懸臂
3. 移動(dòng)驅動(dòng)平臺到設定位置
4. 進(jìn)針
5. 重復掃描 該自動(dòng)化功能可大大減少掃描過(guò)程中手動(dòng)需求，從而很大程度上提高生產(chǎn)力。
操作方便的樣品臺
6. Park NX10的獨特頭部設計可使用戶(hù)從側面操作樣品和探針，用戶(hù)在樣品臺上可放置的樣品體積為50mm× 50mm×20mm（長(cháng)×寬×高）。
7. 高***掃描探針顯微鏡模式和選項的擴展槽
只需將可選模塊插入擴展槽便可激活高***掃描探針顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設計，其生產(chǎn)線(xiàn)設備兼容性得到大大提高。
8. 結合了集成LED照明的同軸高倍顯微鏡
超長(cháng)工作距離的定制物鏡（工作距離50mm, 數值孔徑0.21，分辨率1.0 μm ）帶來(lái)前所未有的鏡頭清晰度。直視同軸設計使得用戶(hù)可輕易在樣品表面尋找目標區域。EL20x的長(cháng)行程物鏡的大尺寸CCD可為您在高視角前提下提供0.7 μm的高分辨率。
9. 滑動(dòng)嵌入SLD鏡頭的自主固定方式
您只需滑動(dòng)嵌入燕尾導軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設計可將鏡頭自動(dòng)鎖定至預對準的位置，同時(shí)與復位精度為幾微米的電路系統相連接。借助于相關(guān)性低的SLD，顯微鏡可精確成像并可準確測定力-距離曲線(xiàn)。
10. 垂直調節驅動(dòng)的Z平臺和聚焦平臺
驅動(dòng)Z平臺和驅動(dòng)聚焦平臺可使懸臂檢測樣品表面并為用戶(hù)持續提供清晰的圖像。用戶(hù)通過(guò)軟件界面進(jìn)行操控，由高精度步進(jìn)電機帶動(dòng)，即使是透明樣品或液池應用中都可簡(jiǎn)單操作。
多種選擇Option
NX系列有適合大眾化的各種掃描模式，能滿(mǎn)足您的所有研究需求。
標準成像
- 真正的非接觸模式 AFM
- 接觸模式AFM
- 側向力顯微鏡 （LFM)
- 相位成像
- 間歇式（輕敲式）AFM
電性能
- 導電AFM
- I-V譜線(xiàn)
- 掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡 （SKPM/KPM)
- 高電壓SKPM
- 掃描電容顯微鏡 （SCM)
- 掃描電阻顯微鏡 （SSRM)
- 掃描隧道顯微鏡 （STM)
- 掃描隧道光譜 （STS)
- 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
Magnetic Properties 磁性能
- 磁力顯微鏡 （MFM)
- 可調外加磁場(chǎng)MFM
化學(xué)性能
- 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
- 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
熱性能
- 掃描熱感顯微鏡(SThM)
光學(xué)性能
- 探針增強拉曼光譜 (TERS)
- 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
介電/壓電性能
- 靜電力顯微鏡 （EFM)
- 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)
- 壓電力顯微鏡 （PFM)
- 高電壓PFM
機械性能
- 力調制顯微鏡 （FMM)
- 納米壓痕
- 納米刻蝕
- 高電壓納米刻蝕
- 納米操縱
- 壓電力顯微鏡 （PFM)
力測量
- 力－距離（F-D)光譜
- 力－體積成像
- 熱噪聲法標定彈性系數
1.高樣品 1.5 μm臺階高度
掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
2.平樣品 藍寶石晶圓的原子臺階
0.3nm臺階高度，掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
3.硬樣品 鎢膜
掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
張圖，
掃描第15張圖之后
4. 軟樣品 膠原原纖維
掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
形貌圖，相圖
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Park NX10 規格
掃描器
Z掃描器
柔性引導高推動(dòng)力掃描器
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
分辨率：0.015 nm
位置探測器噪聲：0.03 nm (帶寬: 1 kHz)
共振頻率：> 9 kHz （通常10.5 kHz ）AFM測頭
SICM測頭
壓電疊堆的撓性結構
Z掃描范圍：25 μm
位置探測器噪聲：0.03 nm (帶寬: 1 kHz)
XY 掃描器
閉環(huán)控制的柔性引導XY掃描器
掃描范圍：50 μm × 50 μm (可選 10 μm × 10 μm or 100 μm × 100 μm)
分辨率：0.05 nm
位置探測器噪聲：< 0.25 nm (帶寬: 1 kHz)
離面運動(dòng)：< 2 nm (掃描超過(guò)40 μm)
驅動(dòng)臺
樣品容量：開(kāi)放空間為100 mm x 100 mm，厚度值為20mm
樣品重量：*重500g
XY位移臺行程范圍：20 mm x 20 mm
Z位移臺行程范圍：25 mm
聚焦樣品臺行程范圍：15 mm
影像
樣品表面和懸臂的直觀(guān)同軸影像
視野：480 μm × 360 μm (10倍物鏡)
CCD: 1 Mpixel (像素分辨率: 0.4 μm)
5 Mpixel (像素分辨率: 0.2 μm)
物鏡
10倍 (0.21NA) 超長(cháng)工作距離鏡頭(1μm分辨率)
20倍 (0.42NA) 高分辨率，長(cháng)工作距離鏡頭(0.6μm分辨率)
電子
信號處理
ADC: 18 通道
ADC通道 (64 MSPS)
24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器
DAC:11通道
DAC通道（64MSPS））
20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位
數據量：4096 x 4096像素
集成功能
3通道數字鎖相放大器
彈性系數校準(熱方法)
數據Q 控制
連接外部信號
20個(gè)嵌入式輸入/輸出端口
5個(gè)TTL輸出： EOF, EOL, EOP, Modulation,and AC bias
選項/模式
標準成像
實(shí)際非接觸模式
接觸模式
側向摩擦力顯微術(shù) （LFM)
相位成像模式
輕敲模式
化學(xué)性能
功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
介電／壓電性能
靜電力顯微鏡
動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC)
壓電力顯微鏡 (PFM)
高電壓PFM
力測量
力－距離（F-D)光譜
力譜成像
磁性能
磁力顯微鏡 （MFM)
可調MFM
熱性能
掃描熱顯微鏡(SThM)
電性能
Pinpoint 導電AFM (CP-AFM)
I-V譜線(xiàn)
掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡 (SKPM/KPM)
高電壓SKPM
QuickStep掃描電容顯微鏡(SCM)
掃描電阻顯微鏡(SSRM)
掃描隧道顯微鏡(STM)
掃描隧道光譜(STS)
光電流測繪(PCM)
機械性能
Pinpoint模式
力調制顯微鏡(FMM)
納米壓痕
納米刻蝕
高電壓納米刻蝕
納米操縱
軟件
Park SmartScan?
AFM系統控制和數據采集的專(zhuān)用軟件
智能模式的快速設置和簡(jiǎn)易成像
手動(dòng)模式的高***使用和更精密的掃描控制
XEI
AFM數據分析軟件
獨立設計――-可獨立安裝和分析數據
能夠生成采集數據的3D繪制
配件
手套箱
磁場(chǎng)發(fā)生器
溫控隔音罩
售后服務(wù)：
Park在中***北京，上海都設有辦事處，售后工程師共十位，可以全方面地滿(mǎn)足顧客所有需求，如有需要，請電郵或者電話(huà)聯(lián)系銷(xiāo)售。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
