俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡solver p47 pro
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:15
品 牌：型 號：
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2712
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聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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技術(shù)指標
| 樣品尺寸 | 40x40x10mm |
| 掃描器 | 3x3x1um （ ± 10%）; 10x10x2um（ ± 10%）; 50x50x3 um （ ± 10%） |
| *小掃描步長(cháng) | 0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm |
| 掃描類(lèi)型 | 樣品掃描式 |
| SPM頭部 | AFM
STM:
30pA - 50nA, 4 p時(shí)的ARMS 噪音 （標準的前置放大器）,
10pA - 5nA, 1.5 p時(shí)的ARMS噪音 （低電流前置放大器）
剪切力 |
| 光學(xué)觀(guān)察系統 | 數值孔徑 0.1
放大倍數58x to 578x
水平視野 5,1~ 0,51mm |
| 控制系統 | SPM 控制箱 |
| 振動(dòng)隔離系統 | 集成有被動(dòng)隔離系統
如果需要也可用主動(dòng)隔離系統 |
產(chǎn)品優(yōu)勢
| 項目 | Solver P47 優(yōu)點(diǎn) |
| 操作模式 | 1.合理的操作模式：
a. 擴展電阻成像：這個(gè)模式在表征半導體的應用中非常有用，因為在該模式下，我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來(lái)測得樣品上某***點(diǎn)的導電率，然后和該點(diǎn)的表明形貌進(jìn)行比較。
b. 粘附力模式：在掃描過(guò)程中，可以同時(shí)得到力－距離曲線(xiàn)和力的值。
c. 剪切力模式：可以用來(lái)實(shí)現SNOW系統。
d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。
e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個(gè)模式可以在納米尺度實(shí)現機械和電壓表面修飾。
2.集成測量頭
在***次掃描過(guò)程中，可以同時(shí)得到4種不同的信息。 |
| 掃描器 | NT-MDT提供***套用于校正的標準光柵（6片），用其進(jìn)行掃描器的校正和針尖質(zhì)量的控制。。 |
| 樣品大小 | 大樣品也可以進(jìn)行測量。 |
| 光學(xué)觀(guān)測系統 | 多樣的光學(xué)觀(guān)測系統配置可以完全滿(mǎn)足客戶(hù)的需求。 |
| 針尖與樣品的驅近 | 1. 驅近系統的機械設計可使得經(jīng)過(guò)幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區域。
2. 在完成驅近之后，可以對所要檢測的區域進(jìn)行自動(dòng)掃描，因此實(shí)驗人員只需很短的時(shí)間便可以在SPM上獲得檢測結果。
3. 允許手動(dòng)驅近。 |
| 電子學(xué) | 每個(gè)軸（X,Y和Z）通過(guò)2個(gè)16位DAC來(lái)實(shí)現22位的掃描精度，再加上極低的系統噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實(shí)現原子***分辨率。 |
| 計算機 | 我們的顯微鏡可以在任何兼容計算機機上進(jìn)行操作。如果您不想購買(mǎi)額外的計算機，那么您還可以將這臺用于SPM的計算機用于其他用途。 |
| 軟件 | 多樣的圖像處理方法；
圖像處理軟件可以免費在http://www.ntmdt.ru網(wǎng)站上下載；
可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠(chǎng)***的數據文件樣本；
可以根據用戶(hù)需要來(lái)定制軟件。 |
| 隔震系統 | 在通常的實(shí)驗室中，不需要增加額外的隔震系統（在通常的實(shí)驗室環(huán)境下就可以得到原子***圖像）。 |
| 其他優(yōu)點(diǎn) | 鈦合金結構和獨特的SPM測量系統設計提供了的熱漂移，讓您可以打開(kāi)系統之后馬上就可以開(kāi)始測量了。
在這方面，NT-MDT盡全力滿(mǎn)足客戶(hù)的期望。 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
