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德***BMT AFM原子力顯微鏡

在當今工業(yè)生產(chǎn)中對納米***表面結構的了解日益重要。這些應用包含了從內燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層，以及現代車(chē)用噴漆，從半導體工業(yè)到醫用技術(shù)。傳統方法已經(jīng)無(wú)法處理上述的長(cháng)度空間。但同時(shí)可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進(jìn)行描述日益成為工業(yè)界和科研機構的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內對化學(xué)反應過(guò)程，腐蝕和磨損進(jìn)行觀(guān)察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結構。而這樣大的測量范圍只需使用同***臺設備。隨著(zhù)BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場(chǎng)上終于出現了***臺掃描原子力顯微鏡，它的突出特點(diǎn)是模塊化結構、高度靈活性而且操作極其簡(jiǎn)便。它獨特的測量模塊運用了化學(xué)對比度成像（Chemical Contrast Imaging （CCI-AFM） ，這種新技術(shù)可以檢測到表面極其微量的化學(xué)變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學(xué)反應實(shí)際發(fā)生的位置，這些反應通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個(gè)采集點(diǎn)上同時(shí)采集圖像信息：從采樣點(diǎn)表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，***直到化學(xué)對比度。

主要特點(diǎn)：

·           操作極其簡(jiǎn)便，用戶(hù)控制，模塊化構造

·           多用掃描 測量頭，就極高的穩定性作了優(yōu)化

·           多測量模式選擇：接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。使用同***個(gè)測量頭可達到的掃描范圍從納米***到面積為 200 µm x 200µm

·           包括化學(xué)對比度成像 （CCI-AFM） 模式

·           包括保護氣體選項

·           可直接在樣品實(shí)地的溫度和濕度條件下測量

·           包括可在液體中測量的工作方式

·           極有用途的附加模塊包括：納米電鍍（GalvanoScan）、納米摩擦和磨損檢測 （TriboScan） 以及腐蝕 （CorroScan） 和納米構造 （LithoScan）

·           可按用戶(hù)需要提供相匹配的軟件模塊，根據特殊要求可提供應用實(shí)例

技術(shù)數據：