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低真空模式背散電子圖像(BSI)，無(wú)鍍金直接觀(guān)察含水份樣品。

JCM-6000PLUS標配低真空模式，在低真空狀態(tài)下，樣品倉中少量的氣體可以中和樣品表面的電荷，降低樣品放電撞，直接觀(guān)察未鍍金的不導電樣品。低真空模式也能有效觀(guān)察部分含水氣或油氣樣品。

➥   A>觸控式操作區域

➥   B>自動(dòng)對焦丶亮度丶對比

➥   C>手動(dòng)微調設定

➥   D>尋找影像

➥   E>*小放大倍率

➥   F>預設放大倍率

編輯尋找影像如此簡(jiǎn)單

操作者可用影像尋找視窗尋找與列印圖像。也可以?xún)Υ嫒魏斡跋衽恼諘r(shí)的設定條件(包括加速電壓丶加速電流丶束流大小等等)。

雙視窗觀(guān)察模式丶方便不同影像直接進(jìn)行比對

JCM-6000PLUS可同時(shí)顯示即時(shí)影像與回看影像。如上圖視窗，右邊是低放大倍率的儲存影像，左邊是高放大倍率的即時(shí)影像。操作人員可以直觀(guān)的比較及時(shí)影像與儲存影像之差異。

JCM-6000PLUS內建點(diǎn)對點(diǎn)量測功能

JCM-6000PLUS NeoScope內建量測功能，可量測兩點(diǎn)之間的距離丶圖像傾斜角度。量測結果可直接顯示在圖像上，也能夠儲存成CSV檔案。

EDS支援點(diǎn)丶線(xiàn)掃丶面(MAPPING)成份分析，功能強大操作簡(jiǎn)單。

按下分析鍵即可打開(kāi)EDS視窗。EDS支援定性/定量分析，從單點(diǎn)元素分析丶線(xiàn)元素分析丶面元素分析(元素分布圖)。JCM-6000Plus可搭載JEOL獨有的固態(tài)半導體EDS，能在影觀(guān)察的任***時(shí)刻提供即時(shí)元素分析。x穹治鰉c影像位置，按下分EDS析I，幼骷純蛇M(jìn)行EDS成份分析、元素定性/定量分析。

多點(diǎn)成份分析

當您在圖像上選擇多個(gè)點(diǎn)的成份分析，系統會(huì )依序自動(dòng)分析選取點(diǎn)的元素成分，顯示分析圖譜。您可在完成分析後比較分析圖譜。

分析助理程序，引導您***步***步完成MAPPING分析。

分析助理程序可以引導操作人員依序完成分析，包括線(xiàn)成份分析丶面成分份析(成分圖)。當您在分析助理程序中選擇***種分析模式，系統會(huì )顯示所需要的分析步驟，視窗中顯示的分析按進(jìn)，會(huì )逐步引導操作人員完成分析。

馬達驅動(dòng)樣品臺與旋轉丶傾斜樣品臺(選購件)

馬達驅動(dòng)旋轉與傾斜樣品臺讓操作人員從不同角度觀(guān)測樣品。傾斜樣品臺能提供更多觀(guān)察角度，更好地觀(guān)察樣品三維狀況。