日本電子 JSM-7001F掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:04
品 牌:型 號:JSM-7001F
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1700
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JSM-7001F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(Thermal Field Emission SEM),是能夠滿(mǎn)足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。JSM-7001F具有大型、5軸、全對中馬達驅動(dòng)自動(dòng)化樣品臺,還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑,即使在大電流和低電壓時(shí),也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑為 200mm的樣品。
計算機接口是新的Windows? XP系統,操作簡(jiǎn)單,具有快速簡(jiǎn)單地切換操作模式的功能鍵。*多可同時(shí)查看包括混合信號的四幅實(shí)時(shí)圖像,單次掃描就可以記錄并馬上存儲全部的四幅圖像。
JSM-7001F掃描電子顯微鏡還支持與EDS、WDS、電子束光刻系統和圖像數據庫的整體化。標準的樣品臺自動(dòng)化由計算機控制5軸:X、Y、Z、傾斜和對中自轉。
低真空操作
JSM-7001FLV場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有高分辨率性能,可以在中至高電壓千伏(kV)和更高的束流下對非導電樣品進(jìn)行成像。因此無(wú)需在樣品上鍍金屬膜或碳膜以供導電,即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技術(shù)。這在以下情況中特別有用: 樣品不能修改時(shí),尚需后續測試時(shí),或尚需返回產(chǎn)品線(xiàn)時(shí)。
低真空模式規格
樣品室壓力:50 Pa
分辨率:3.0nm(30kV)(BEI)
槍室壓力:5 x 10-7 Pa或更小
采用的氣體:干燥氮氣