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儀器簡(jiǎn)介：
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫療、制藥、半導體到納米技術(shù)。

利用200kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現超高分辨率圖像的觀(guān)察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現各種分析功能。

JEM-2100F*新設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時(shí)都不會(huì )造成機械飄移。

SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實(shí)現***體化控制。



技術(shù)參數：
1.點(diǎn)分辨率：0.19nm
2.線(xiàn)分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm


主要特點(diǎn)：
1.高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側插測角臺，更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍，無(wú)機械飄移。
4.穩定性好、操作簡(jiǎn)便。
5.微處理器和PC兩套系統控制，防止死機。