FEI Apreo 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:01
品 牌:型 號:Apreo
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1950
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Apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù),可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,并且不會(huì )降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測,這種探測提供卓越的材料對比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復合透鏡通過(guò)能量過(guò)濾進(jìn)***步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過(guò)濾??蛇x低真空模式,現在的zui大樣品倉壓力為 500 Pa,可以對要求zui嚴苛的絕緣體進(jìn)行成像。
通過(guò)這些優(yōu)勢(包括復合末***透鏡、高***探測和靈活樣品處理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,幫助您應對未來(lái)的研究難題。



