osp厚度測量?jì)x
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-15 17:58
品 牌：型 號：ST4080-osp
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2598
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ST4080-OSP（有機可焊性保護膜）專(zhuān)用于測量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測量?jì)x，它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料，使得實(shí)時(shí)檢測無(wú)需任何的樣品制備。
由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動(dòng)聚焦功能，適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術(shù)，而它在半導體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實(shí)。
為什么要選擇 ST4080-OSP?
ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測量。
ST4080-OSP 無(wú)需樣品制備，可確?？焖俸秃?jiǎn)便操作。
ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
ST4080-OSP 與紫外可見(jiàn)分光計，受迫離子束方法，時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測量方法相比較，它基于更可靠的測量技術(shù)。
ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內的多波長(cháng)光譜。
ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細數據，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
ST4080-OSP 通過(guò)3D表面形態(tài)學(xué)將測量程序*優(yōu)化。 |
| 在電路行業(yè)，有機可焊性保護膜（OSP）涂層的使用對保護銅表面防止氧化是必需的。
關(guān)于RoHS指令，該保護膜涂層要求無(wú)鉛適用，易加工和低成本。它的標準厚度測量范圍是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通過(guò)分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來(lái)測量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時(shí)測量多個(gè)光斑，并以輪廓形式顯示厚度測量結果。
ST4080-OSP有兩種光學(xué)透鏡。用戶(hù)可使用5倍的光學(xué)透鏡方便地進(jìn)入詳細模式的自選區域，再通過(guò)使用50倍的光學(xué)透鏡獲取詳細厚度輪廓。
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技術(shù)參數：波長(cháng)范圍 | 420nm-640nm |
測量范圍 | 0.035-3um |
*小光斑尺寸 | 1.35 , 0.135 |
測試面積 | 864X648 /86.4X64.8 |
放大倍數 | 5X，50X |
測量層 | 1 |
Z軸再現性 | ± 1 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
