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物理光學(xué)儀器
美國必達泰克光學(xué)反射率儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:美國更新時(shí)間:2020-10-29 16:46
品 牌:必達泰克型 號:
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2042
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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1. 512元線(xiàn)性PDA陣列光譜儀,16位AD,USB2.0接口
2. 特殊半透鏡專(zhuān)利技術(shù),能高效收集試樣表面反射光,避免底部反射光影響,提高測試精度
3. ***大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率
4. 外置式探頭可選,更方便的用于大面積、高曲率、現場(chǎng)特殊環(huán)境監測
產(chǎn)品參數
檢測范圍:350-1050nm
光斑尺寸:50um
樣品曲率半徑:-1R~-∞ ,:+1R~+∞
重現性:±0.01%
光學(xué)分辨率:3.5nm
測量時(shí)間:3-65535ms
產(chǎn)品介紹
精確檢測光學(xué)鏡片等表面鍍膜物質(zhì)反射率的理想選擇。內建光源,專(zhuān)用三維樣品臺,顯微聚焦功能和精確頂點(diǎn)定位機制。標準USB2.0/1.1接口,專(zhuān)用反射率檢測軟件
既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測,又有外接探頭選項可以現場(chǎng)檢測大面積高曲率等特殊界面。