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檢測：1.材料內部晶格結構，雜質(zhì)顆粒，沉淀物；2.內部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡。

原理 ：
利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來(lái)探測半導體、元器件的結構、缺陷、對材料做定性分析。

應用:

D9500以其無(wú)與倫比的精度和穩健性成為了現代微聲學(xué)成像的標準，是失效分析，工藝開(kāi)發(fā)，材料分析與表征和小批量生產(chǎn)的***佳選擇。D9500采用同時(shí)傳輸和反射模式，并且應用更新更符合人體工程學(xué)設計。

主要特征：

慣性平穩掃描裝置能減少振動(dòng)，確保***佳的掃描結果
新的，更大的掃描范圍，有多個(gè)托盤(pán)可以容納大樣本
多語(yǔ)言操作系統，使用者可以選擇母語(yǔ)：中文，英語(yǔ)和日語(yǔ)。
溫度控制選擇：無(wú)論周?chē)h(huán)境中空氣溫度變化，會(huì )確保***天中水的溫度保持不變
B型掃描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan特有的B型掃描模式，為用戶(hù)提供***個(gè)極準確且包含深層數據的虛擬橫截面。