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OPX/CPX.MCT微米劃痕儀(Micro Scratch Tester)

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:瑞士更新時(shí)間:2020-10-26 15:03

品  牌:CSM型  號:OPX/CPX.MC

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:2183

400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

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電   話(huà): 400-006-7520

傳   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快遞

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特點(diǎn)
金剛石劃痕針頭
自動(dòng)控制的光學(xué)顯微鏡觀(guān)察
閉環(huán)力學(xué)反饋系統
劃痕深度控制
材料表面輪廓測量


產(chǎn)品參數


產(chǎn)品介紹

選件
擺動(dòng)劃痕模式
高分辨率CCD光學(xué)顯微鏡,共焦顯微鏡,原子力顯微鏡
多種劃痕針頭
壓入測試模塊選件
溫度控制


微米劃痕測試儀(30mN - 30N)

微米***劃痕測試儀被廣泛應用于界定薄膜與基體的結合強度,薄膜厚度***般小于5微米。它還被用于分析有機、無(wú)機,軟質(zhì)和硬質(zhì)薄膜的破壞形式。薄膜材料包括PVD, CVD, PECVD單層或多層薄膜,感光薄膜,彩繪釉漆,和其他應用于各種領(lǐng)域的薄膜,包括光學(xué)、微電子、保護性薄膜、裝飾性涂層等領(lǐng)域?;w材料可以為硬質(zhì)或軟質(zhì)材料,包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物、以及有機材料等。

CSM劃痕測試儀器專(zhuān)門(mén)用于定量測定薄膜材料的機械性質(zhì):膜基結合強度、涂層失效形式以及基體變形尺度等。劃痕測試儀綜合多種高精度傳感器定量測定膜基系統的各種重要參數,是科學(xué)研究和工業(yè)研發(fā)質(zhì)檢領(lǐng)域不可或缺的工具。
 




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