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APEX納米劃痕儀(Nano Scratch Tester)

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:美國更新時(shí)間:2020-10-30 10:05

品  牌:CETR型  號:APEX

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1060

400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!

上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

電   話(huà): 400-006-7520

傳   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快遞

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APEX納米劃痕儀:

美***CETR公司***新技術(shù)納米劃痕儀。本公司還提供其他劃痕儀,包括:

超納米劃痕儀,超納米劃痕儀,超納米劃痕儀,超納米劃痕儀,超納米劃痕儀,超納米劃痕儀。

環(huán)境劃痕儀,環(huán)境劃痕儀,環(huán)境劃痕儀,環(huán)境劃痕儀,環(huán)境劃痕儀,環(huán)境劃痕儀。

1. 上/下樣品臺可以獨立的實(shí)現多種運動(dòng)模式:線(xiàn)性運動(dòng)、旋轉運動(dòng)、振動(dòng),還可以通過(guò)軟、硬件實(shí)現各種復雜的復合運動(dòng)模式;

2.獨特的動(dòng)態(tài)加載:(獨特的閉環(huán)的伺服加載)

       恒力加載模式、線(xiàn)性增量加載模式,通過(guò)軟件實(shí)現對樣品的任意動(dòng)態(tài)加載模式。

       這種動(dòng)態(tài)加載方式在高低溫控制條件下同樣適用。

3.納米壓痕儀和納米劃痕儀以及成像系統共用***測試平臺

       可以同時(shí)實(shí)現壓痕和劃痕測試,不需要更換壓劃頭或部件。真正意義上的原位成像。

4.微金剛石鏟子:(美***CETR公司擁有獨***專(zhuān)利)

可實(shí)現薄膜與基體準確的結合力測試。薄膜與基體結合力更加準確的測試方法:傳統結合力是借助圓錐形的探針做劃痕試驗來(lái)獲得,這種方法得到的結合力更多的上反映的是膜材本身的強度,而并非真正意義上的結合力。微金剛石鏟子可以很準確的對結合力進(jìn)行測試。

5.能按照所有的ASTM標準和多種ISO的標準進(jìn)行測試。


產(chǎn)品參數

加載系統:精確的自動(dòng)伺服控制加載,可恒力加載或連續線(xiàn)性加載。

針尖:

絡(luò )氏和維氏金剛石壓頭(Rockwell and Vickers Indenter)。

金剛石壓頭(Diamond Stylus):2-200 mm。

碳化物、藍寶石、鐵球(Tungsten carbide, sapphire, steel balls):1.5-25 mm。

鋼針(Steel needles):0.1-1 mm。

專(zhuān)利技術(shù),微金剛石鏟子(Patented micro-blades):0.4-1.0 mm。

載荷范圍:1μN-10N,1mN-200N,0.1N-1kN。

分辨率:1μN。

劃痕速度:1μm/s-10mm/s,( 100mm/s 可選)

傳感器:

聲發(fā)射: 高頻能達到5.5MHz。

摩擦系數。

表面接觸電阻。

用于微觀(guān)圖像的數字式光學(xué)顯微鏡:550X。

CCD相機:視頻及靜止圖像。

表面形貌觀(guān)察及檢測:原子力顯微鏡或三維形貌儀。

劃痕模式: 通過(guò)獨特的閉環(huán)的伺服機械系統實(shí)現準確動(dòng)態(tài)加載,可以提供恒力加載模式、線(xiàn)性增量加載模式和通過(guò)軟件實(shí)現對樣品的任意動(dòng)態(tài)加載模式。

可實(shí)時(shí)記錄法向力/摩擦力/穿透深度/聲發(fā)射信號,從而可對實(shí)際樣品準確可靠的獲得膜與基底的結合力,或研究薄膜或其他樣品表面的摩擦/磨損行為。

實(shí)時(shí)在線(xiàn)的光學(xué)顯微鏡觀(guān)察及紀錄

樣品形狀:任何形狀

樣品尺寸:1μm – 任意尺寸

E:原子力顯微鏡(AFM)

閉環(huán)壓電陶瓷掃描平臺,機械噪音極低。

接觸式原子力顯微鏡

半接觸式原子力顯微鏡

真正非接觸式原子力顯微鏡

橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)

導電原子力顯微鏡

磁力顯微鏡(MFM),開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)

電容和靜電力顯微鏡(EFM)

高級的納米光刻和納米操作能力

高速數據采集,高速三維掃描。

粗糙度測量,適用于高精度拋光表面和粗糙的機加工表面。

劃痕、磨痕高度、寬度和體積測量。

表面缺陷分析。

掃描范圍:180μm×180μm×14μm。

水平分辨率:0.02nm。

垂直分辨率:0.1nm。


產(chǎn)品介紹

該儀器可廣泛的應用于材料科學(xué)、薄膜涂層、生物、化工、石油、微電子、微型傳感器、半導體材料、自動(dòng)控制、航空航天、汽車(chē)工業(yè)及機械工具的材料研究和開(kāi)發(fā),還可以應用于工業(yè)產(chǎn)品的失效與可靠性的評價(jià)、質(zhì)量控制及檢驗;也可以按所有的ASTM 和多種ISO的標準進(jìn)行試驗測量。同時(shí)也可以向各類(lèi)不同領(lǐng)域中的用戶(hù)提供檢測服務(wù)。

UMT具有長(cháng)期的穩定性和可重復性,可以對各種薄膜/涂層通過(guò)壓/劃/磨等測試其結合強度、薄膜彈性模量、薄膜壽命/失效分析、顯微(納米)硬度、顯微(納米)劃痕、三維表面形貌、表面粗糙度、斷裂韌性、蠕變、潤滑/抗磨特性、抗沖擊能力、抗劃痕能力、耐腐蝕性能、失效以及疲勞等等。




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