性能特點(diǎn)
1、 工業(yè)***攝像頭高速采集,光學(xué)顯微鏡放大成像,圖像快速顯示于電腦,直接觀(guān)察顆粒形貌,專(zhuān)用軟件進(jìn)行顆粒數據處理。
2、 測量范圍:0.5μm~3000μm
3、 全平場(chǎng)消色差物鏡,***大分辨率0.07微米,***大光學(xué)放大倍數1600倍,打印***大倍數4000倍(A4幅面)
4、 提供等面積和等周長(cháng)兩種基準下的個(gè)數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時(shí)提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長(cháng)徑比等粒度分布數據,配有(30)多種圖像分析和處理功能,可以滿(mǎn)足各種圖像處理需要。
5、 對采集的圖像進(jìn)行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等,提高分析分辨率,網(wǎng)格標注顆粒尺寸等功能,使測試結果更真實(shí)可靠。
6、 儀器分二種型號,技術(shù)原理、參數都相同,JX-2000A型顆粒圖像測試儀配置透射顯微鏡,JX-2000B型顆粒圖像測試儀配置透反射顯微鏡,后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀(guān)察分析。