德***BMT干涉儀
德***BMT（Breitmeier Messtechnik GmbH）作為德*** 進(jìn)的三維測量技術(shù)和應用的制造商，在表面測量的技術(shù)領(lǐng)域具有豐富的經(jīng)驗，能夠為客戶(hù)的需求做出快速靈活的判斷，并為客戶(hù)提供更加***的、性?xún)r(jià)比高的、創(chuàng )新的表面測量解決方案，其優(yōu)勢在于對非接觸式（光學(xué)）、接觸式表面輪廓儀和粗糙度測量?jì)x器的研發(fā)。
產(chǎn)品范圍：
德***BMT干涉儀、BMT滾軸表面輪廓儀、BMT、BMT原子力顯微鏡、BMT觸針可控儀器
產(chǎn)品系列：
WLILab 干涉儀、WLI Linnik干涉儀、WLI LA干涉儀、WLI VLA干涉儀、WLIRing干涉儀、WLI Infra干涉儀、Surfiler滾軸表面輪廓儀
德***BMT WLI Linik干涉儀特點(diǎn)：
•區域表面的形貌測量；
•數秒內快速測量；
•粗糙和光滑表面都可測量；
•測量結果不受樣品的顏色和材料影響；
•產(chǎn)品堅固耐用。
德***BMT WLI Linik干涉儀技術(shù)參數：
•光源 LED
•測量范圍 （mm) 150
•垂直分辨率（nm） 1
•橫向分辨率（μm） ＞0.2
•測量面積 （μm） 90×70
•工作距離，約（mm) 0.3
•光斑尺寸，約（μm) 0.95
•圖像尺寸（Pixel） 1～10
德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀簡(jiǎn)介：
德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀用于對金屬表面結構和粗糙度進(jìn)行光學(xué)測量評估和記錄。
•滾筒和平整表面的粗糙度和微結構測量；
•可簡(jiǎn)單安放到滾筒上；
•可用于各種表面，如昏暗、光亮和彩色表面；
•簡(jiǎn)單非接觸測量，節省時(shí)間，橫向和徑向分辨率高；
•表面結構的輕松記錄；
•符合人體工學(xué)的掃描操作設計；
•通過(guò)拼接實(shí)現大范圍測量；
•使用普通PC獲取數據，多種格式數據輸出，如tif、Excel、ASCⅡ。
技術(shù)參數：
•測量面積 [μm] 250 x 250 (或定制)
•垂直分辨率 [nm] >1
•橫向分辨率 [μm] >1
•測量時(shí)間 [s] 3-50
•測量范圍 [μm] 150
•圖片尺寸 [Pixel] 1300 x 1100
•外觀(guān)尺寸 [mm] 400 x 120 x 160
•重量 [kg] 5
•位移 X 軸 [mm] 30
Y 軸 [mm] 10
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
