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電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)
Quanta™ 掃描電子顯微鏡
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：美國更新時(shí)間：2020-10-29 11:38
品 牌：FEI型 號：Quanta
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2605
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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適用于各種樣品的高真空、低真空和 ESEM 模式
FEI QUANTA?產(chǎn)品系列包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM?）和兩個(gè)DualBeam?系統，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控制實(shí)驗室，材料科學(xué)實(shí)驗室和生命科學(xué)實(shí)驗室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是***款多功能，高性能儀器與任何SEM系統的樣本，以適應范圍***廣的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長(cháng)色散X射線(xiàn)光譜儀和電子背散射衍射分析系統，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統。
> 下載 Quanta 650 掃描電子顯微鏡數據表
> 下載 Quanta 650FEG 掃描電子顯微鏡數據表
產(chǎn)品參數
最小化樣品制備的數量，低真空和 ESEM 功能可實(shí)現絕緣及/或含水樣品的無(wú)荷電成像和分析
? 通過(guò) Quanta 的“經(jīng)由透鏡”專(zhuān)利壓差真空技術(shù)，可在高真空和低真空條件下對導電和絕緣樣品進(jìn)行 EDS 和 EBSD 分析，提高分析能力。 穩定的高射束電流（高達 2 μA）可實(shí)現快速準確的分析
? 使用原位樣品臺在 - 165 °C - 1500 °C 環(huán)境溫度條件下執行各種自然狀態(tài)樣品的動(dòng)態(tài)原位分析
? 使用可選的射束減速模式完成表面成像，以獲取導電樣品的表面和成分信息
? 易用和直觀(guān)性令初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作。
分辨率 | 加速
電壓 | 探針電流 樣品臺 | 放大率 | 試件室尺寸 |
|
| Quanta 50 系列 | 高真空 3.0 nm/30 kV (SE) 4.0 nm/30 kV (BSE) 10.0 nm/3 kV (SE)
低真空 3.0 nm/30 kV (SE) 4.0 nm/30k V (BSE) 10 nm/3 kV (SE)
| 200 V
- 30 kV | 高達 2 μA，
可持續
調節 | 20 - 1000000
x （四象限視圖） | 左右寬
284mm-379mm |
| Quanta 50 系列/配 FEG | 高真空 0.8 nm/30 kV (STEM)* 1.0 nm/30 kV (SE) 2.5 nm/30 kV (BSE) 3.0 nm/1 kV (SE)
低真空 1.4 nm/30 kV (SE) 2.5 nm/30 kV (BSE) 3.0 nm/3 kV (SE)
| 200 V
- 30 kV | 高達 2 μA，
可持續
調節 | 20 - 1000000
x （四象限視圖） | 284mm-379mm
內徑（從左至右） |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
