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用于高***分析的創(chuàng )新技術(shù)

FEI Tecnai 系列透射電子顯微鏡 (TEMs) 旨在為生命科學(xué)、材料科學(xué)和電子行業(yè)提供真正完整的成像和分析解決方案。 Tecnai G2 系列擁有數種型號，結合了現代技術(shù)和創(chuàng )新科學(xué)和工程團體的緊迫需求。

向當地銷(xiāo)售經(jīng)理了解 Tecnai G2 系列  透射電子顯微鏡，或單擊以下鏈接了解詳情。

> 下載 Tecnai G2 30 TEM 數據表
> 下載 Tecnai G2 F30 TEM 數據表
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> 下載 Tecnai Polara TEM 數據表
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? 高性能 TEM 成像、STEM 成像和納米分析
? 革命性的 EDX ChemiSTEM? 分析性能和杰出的 TEM 和 STEM 成像質(zhì)量 (Tecnai Osiris) 
? 同步數據記錄、嵌入式 STEM、CCD 相機、EDX 探測器、EELS 電子能量損失譜儀和能量過(guò)濾器 (Tecnai G2 F20/30)
? 穩定的低偏差、液氦冷卻樣品桿、精密的高傾角 (± 70°) 旋轉樣品桿，廣泛的多樣品定向記錄（二維電子晶體學(xué)和高分辨率細胞斷層攝影） (Tecnai? G2 Polara)
? 雙軸斷層攝影、高***自動(dòng)化和優(yōu)化的冷沉淀電子顯微鏡整體解決方案。 (Tecnai Spirit)